quarta-feira, julho 29, 2009

5º Congresso Brasileiro - Metrologia 2009 - Salvador - BA - “Metrologia para a Competitividade em Áreas Estratégicas”

Apresentação

Com o propósito de fortalecer o desenvolvimento da metrologia e da instrumentação, principalmente no Brasil e na América Latina, congregando pessoas e entidades para produzir conhecimento e cultura científica, fomentando o intercâmbio de especialistas e pesquisadores do País e do exterior, a Sociedade Brasileira de Metrologia (SBM) tem a grata satisfação de anunciar a realização do 5º Congresso Brasileiro de Metrologia - Metrologia2009, sobre o tema “Metrologia para a Competitividade em Áreas Estratégicas”, que será realizado na cidade de Salvador, Bahia, no período de 9 a 13 de novembro de 2009.
Contando com o interesse e entusiasmo da comunidade técnico-científica, o Comitê Organizador tem a honra de convidar profissionais e instituições a participarem deste tradicional e relevante Congresso, reiterando o compromisso de organizar um evento segundo os mais elevados padrões internacionais.

O Metrologia2009 pretende ser palco de discussões de temas envolvendo metrologia e instrumentação, assegurando ferramentas para o desenvolvimento da ciência e da tecnologia das medições, no contexto da chamada nova era do conhecimento.
Paralelamente ao congresso será realizada uma exposição de serviços e equipamentos científicos. Assim, padrões, equipamentos de medição, insumos aplicados à metrologia e material bibliográfico poderão ser expostos em estandes da MetroExpo2009 a ser realizada durante o Congresso.

Tópicos

Não obstante o público das versões anteriores do Congresso Brasileiro de Metrologia e sua abrangência internacional, o Metrologia 2009 estará aberto a toda a comunidade com interesse nos diferentes aspectos da tecnologia, da ciência e da arte da medição, promovendo a interação de especialistas, acadêmicos, pesquisadores, profissionais liberais e metrologistas vinculados a organizações governamentais ou do setor privado, nacionais e internacionais.
O METROLOGIA 2009 abrange todas as áreas de conhecimento em metrologia e instrumentação. A seguir relacionamos alguns tópicos e áreas que serão temas do congresso.

Área 01: EDUCAÇÃO EM TECNOLOGIA;
1.1. Educação e treinamentos em metrologia e instrumentação;
1.2. Ferramentas e práticas para ensino da metrologia;
1.3. Instrumentação virtual para treinamentos em instrumentação e medição;
1.4. Experiências vitoriosas no ensino da metrologia e instrumentação;
1.5. O papel social e aplicações das medições.

Área 02: ÓPTICA;

2.1. Fotometria e Radiometria;
2.2. Colorimetria, Espectrofotometria, Elipsometria e Propriedades Ópticas dos Materiais;
2.3. Interferometria e Holografia;
2.4. Óptica Quântica e Óptica-não-Linear;
2.5. Tempo e Freqüência;
2.6. Fibras Ópticas e Filmes Finos Ópticos;
2.7. Sensores Ópticos;
2.8. Fontes de luz aplicadas a saúde;
2.9. Fontes Luminosas para Aplicações em Iluminação e Sinalização.

Área 03: MECÂNICA;

3.1. Medições interferométricas;
3.2. Incerteza de medição;
3.3. Medições dinâmicas;
3.4. Rastreabilidade e desenvolvimento de padrões, equipamentos e sistemas de medição;
3.5. Desenvolvimento de tecnologias e métodos de calibração e de ensaios;
3.6. Realização e reprodução de unidades de medida do SI;
3.7. Metrologia e Instrumentação nas áreas de: Comprimento, Ângulo, Rugosidade, Força, Torque, Dureza, Massa e Pressão (Vácuo), Viscosidade, Massa Específica, Volume e Tensão Superficial, Vazão e Velocidade de Fluidos.

Área 04: ELÉTRICA, ELETRÔNICA E TELECOMUNICAÇÕES;

4.1. Automação, validação e produtividade em metrologia elétrica;
4.2. Padrões, calibração, técnicas, métodos e procedimentos de medição;
4.3. Gestão da qualidade em laboratórios de calibração e ensaios;
4.4. Metrologia quântica e constantes fundamentais;
4.5. Sistemas de medição e calibração remotas e virtuais;
4.6. Novas tecnologias utilizadas na metrologia elétrica;
4.7. Rastreabilidade e comparações interlaboratoriais das grandezas elétricas;
4.8. Metrologia elétrica nas áreas de saúde, meio ambiente e telecomunicações;
4.9. Medições de tempo e freqüência;
4.10. Processamento analógico e misto de sinais para medição;
4.11. Sensores e transdutores;
4.12. Conversores A/D e D/A.

Área 05: INCERTEZA, ESTATÍSTICA E MATEMÁTICA;

5.1. Comparações Interlaboratoriais;
5.2 Ensaios de Proficiência e Rastreabilidade;
5.3. Análise e modelagem de sistemas de medição;
5.4. Ferramentas matemáticas e estatísticas para metrologia;
5.5. Inteligência artificial em metrologia e instrumentação;
5.6. Avaliação da incerteza de medição;
5.8. Garantia da qualidade das medições;
5.9. Aquisição de dados e instrumentos virtuais;
5.10. Validação de software usados nas medições.

Área 06: LEGAL;

6.1. Regulamentação Metrológica;
6.2. Controle Metrológico Legal;
6.3. Padrões, métodos e procedimentos de medição.
Área 07: SAÚDE;
7.1. Modelos matemáticos para medições em Biologia e Medicina;
7.2. Imagens digitais e instrumentação especial para biomedições;
7.3. Métodos, sistemas, medição e instrumentação em Biologia e Medicina;
7.4. Diagnósticos Técnicos;
7.5. Comparações Interlaboratoriais e Ensaios de Proficiência em Biologia e Medicina;
7.6. Medições biomédicas para melhoria na qualidade de vida;
7.7. Princípios básicos e tendências de desenvolvimento no trabalho diagnóstico;

Área 08: SISTEMA DE GESTÃO E INFRAESTRUTURA PARA LABORATÓRIOS;

8.1. Gestão da qualidade em laboratórios de calibração e ensaios;
8.2. Cooperação regional em metrologia;
8.3. Suporte aos serviços de medição e ensaio;
8.4. Rastreabilidade, comparações interlaboratoriais e ensaios de proficiência;
8.5 Automação Laboratorial.

Área 09: TEMPERATURA E TÉRMICA;

9.1. Metrologia e instrumentação em Termometria;
9.2. Metrologia e instrumentação Pirometria, termometria de Radiação;
9.3. Metrologia e instrumentação Higrometria;
9.4. Padrões, sensores e novas técnica de medição;
9.5. Comparações Interlaboratoriais e Ensaios de Proficiência, Rastreabilidade.
Área 10: INSTRUMENTAÇÃO, AUTOMAÇÃO E ROBÓTICA;
10.1. Medidas e tecnologia aplicadas em robótica;
10.2. Sensores em robótica;
10.3. Medidas e avaliações do desempenho e comportamento de robôs;
10.4. Aplicações da robótica para melhorar a qualidade de vida humana;
10.5. Realidade virtual;

Área 11: MEIO AMBIENTE;

11.1. Medidas analítica dos principais meios ambientais: ar, água e terra;
11.2. Métodos instrumentais para medida de poluição ambiental;
11.3. Sensoriamento remoto para controle da poluição ambiental;
11.4. Garantia de qualidade e controle de qualidade de medidas ambientais;
11.5. Comparações Interlaboratoriais e Ensaios de Proficiência em metrologia de meio ambiente.

Área 12: QUÍMICA;

12.1. Metrologia eletroquímica em medições de pH;
12.2. Metrologia eletroquímica em medições de condutividade eletrolítica;
12.3. Metrologia eletroquímica em coulometria;
12.4 Pesquisa e desenvolvimento em cromatografia;
12.5. Espectrometria de massas;
12.6. Determinação e a quantificação de analitos orgânicos em diferentes matrizes;
12.7. Desenvolvimento e Certificação de Materiais de Referência Certificados (MRC's);
12.8. Rastreabilidade em análise Orgânica, para diferentes matrizes, tais como alimentos, fármacos, biocombustíveis e matrizes ambientais;
12.9. Estabelecimento da rastreabilidade em análise inorgânica;
12.10. Estatística aplicada à garantia da qualidade analítica;
12.11. Metrologia do estado gasoso;
12.12. Estabelecimento da rastreabilidade em análise de controle da qualidade do ar e do gás natural;
12.13. Pesquisa e desenvolvimento em gravimetria cromatografia gasosa e espectrometria de infravermelho em diferentes matrizes no estado gasoso;
12.14. Desenvolvimento de Padrões Primários de Misturas Gasosas.

Área 13: ALIMENTOS;

13.1. Metrologia e Instrumentação na indústria de alimentos;
13.2. Comparações Interlaboratoriais e Ensaios de Proficiência;
13.3. Rastreabilidade dos sistemas e equipamentos de medição usados na indústria de alimentos.

Área 14: ACÚSTICA E VIBRAÇÃO;

14.1. Metrologia e Instrumentação em acústica e vibrações;
14.2. Sistema para medições de potência sonora;
14.3. Sistema para medições de absorção sonora;
14.4. Sistema de medição de tempo de reverberação em câmaras;
14.5. Sistema para medições de ruído ambiental / local de trabalho;
14.6. Calibração de microfones por resposta impulsiva;
14.7. Calibração primária de microfones em campo livre;
14.8. Calibração de acelerômetros;
14.9. Calibração de vibrômetros com saída digital;
14.10. Calibração de hidrofones;
14.11. Sistema para calibração de transdutores ultra-sônicos;
14.12. Sistema para mapeamento de feixe de fontes ultra-sônicas;
14.13. Sistema para calibrações de comparação de balanças de radiação;
14.14. Comparações Interlaboratoriais e Ensaios de Proficiência, Rastreabilidade.

Área 15: MATERIAIS;

15.1. Caracterização das propriedades fisico-químicas, morfológicas, estruturais, magnéticas, térmicas e mecânicas dos materiais;
15.2. Metrologia em Biomateriais e Tribologia;
15.3. Análise de Superfícies e Interfaces;
15.4. Microscopia;
15.5. Dispositivos Orgânicos;
15.6. Magnetismo e Espectroscopia;
15.7. Análises térmicas;
15.8. Difração e Espectroscopia;
15.9. Nanometrologia;

Área 16: NUCLEAR e RADIAÇÕES IONIZANTES.

16.1. Metrologia e instrumentação em radiações ionizantes;
16.2. Desenvolvimentos de métodos e padrões de medição;
16.3. Comparações Interlaboratoriais e Ensaios de Proficiência;
16.4. Rastreabilidade dos padrões e sistemas medição usados nas áreas nuclear e de radiações ionizantes.

Maiores Informações: www.metrologia2009.org.br
Sociedade Brasileira de Metrologia:
Tel./Fax +55 (21) 2532-7373 E-mail: inscricoes@metrologia2009.org.br
Enviado pelo colega Teylo Vasconcelos/BA



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